簡述創新技術SDD XRF擴展新的視野及應用範圍

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  • 時間:2010/7/19 下午 05:42:00
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從歐盟開始要求對電子電機產品管制有害物質(RoHS)起,XRF就逐漸成為各工廠在進料、製程及出貨檢查必備的快速工具,接著美國12歲以下的消費性產品對鉛(Pb)、鎘(Cd)的管制要求,XRF成為美國官方正式認可的快速篩選工具,全球各大XRF廠商,也因此投入更多的研究經費,來開發出更快速、更精準及更靈敏的XRF。

在2009年起,就陸續有XRF製造廠開發出新一世代的XRF設備-SDD XRF,其設備特性有:

1. 高解析度(high resolution): 140~160eV
    ● 適合分析位置相近的元素以及被空氣干擾的輕元素
 
    ●
Si
Pin: 大約210~230eV
2. 高計數率(high count per second): 150,000 cps
?● 縮短檢測時間,S/N: &radic1/時間≒&radic1/強度,cps越大,代表在得到相同的檢測強度,所需要的時間成開

          根號縮短。
?● 得到相同的強度,只要Si Pin的0.2~0.05倍的時間,即Si Pin在設定分析時間為100秒的話,對SDD的
        而言,得到&lsquo相同的強度,只需5~20秒。
?● 提昇XRF測樣稼動率,約Si Pin的5~20倍。
3. 高靈敏度(high sensitivity): 低的背景雜訊,提高各元素的檢測下限
?● 一般而言,因手持式XRF光源強度約1~4W(W=電流X電壓),在使用Si Pin的檢測器應用下,其元素
       的LOD約為20~50ppm左右。
?● 在使用高靈敏度的SDD檢測器,其靈敏度提昇約6~10倍。
?● 因背景雜訊降低,其穩定性更高,約Si Pin的2~5倍。

                  
圖1.手持式SDD XRF Delta設備                                          圖2. SDD檢測器外觀圖



                            圖3. SDD(Silicon Draft Detector) 光電訊號轉換示意圖

由上述SDD的特性,Innov-X已開發出新的機型-Delta,已滿足更多客戶在做材料上元素分析的應用,尤其是,您現在若使用化學濕式分析(原子吸收光譜儀,AA,感應藕合電漿光譜儀,ICP),將可以與我們連絡,讓我們提供給您一個全新非破壞快速元素分析的方法,下列為在不同應用領域下,相關元素的檢測下限範圍(Limit Of Detector ,LOD)。

A. 合金應用:
? ● PMI: 石化廠、化學工廠、特殊化學品運輸管線、半導體、光電廠等應用。
? ● Scrap: 各種不銹鋼、合金、貴重金屬、金銀樓貴重金屬純度、稀有金屬等應用。
? ● 輕元素:鎂鋁合金、不銹鋼不純物-鋁(Al)分析、合金不純物-硫(S)及磷(P)分析、各種合金不純元素允
        收判定應用、特殊合金客製化應用。
B. 土壤環境污染及礦物分析應用:
? ● 土壤環境污染快速篩選應用(NIEA S322.60C):
         As、Se、Hg、Pb、Th、U<5ppm,Cr、Cd、Au<10 ppm。
? ● 各種土壤基質(Soil Matrix)檢量線(Calibration curve)建立客製化服務。
? ● 可增加P、K、Ca、Mg等元素分析
? ● 可增加S、Cl等元素分析
C. 歐美均質材料有害物質法令應用:
? ● RoHS V2.0、Halogen Free及HR2420等應用。
? ● 在分析樣品時得到相同的強度值(穩定度),檢測時間比Si Pin快5~20倍。
? ● 無鹵素LOD可達<50 ppm。
? ● 重金屬鎘(Cd)LOD<5 ppm,符合SONY GP的規範。
? ● 共元素的干擾大大的減少,數據再現性比Si Pin優。

上述為目前在手持式XRF常應用領域的說明,因SDD的特性,亦有更多及廣的應用,如:刑事鑑定、古物修復、材料(原料)不純物快速分析、建築物橋墩成份比較判斷、航太材質快速判斷等等。

歡迎各行各業同業及客戶與我司連絡,您在材料上的應用分析,我們將會給您新的分析視野。

本文取自能邁科技集團

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